Huhne R., Grinenko V., Buchner B., Wurmehl S., Skrotzki W., Nielsch K., Richter S., Aswartham S., Pukenas A.
Hanisch J., Schultz L., Huhne R., Usoskin A., Pahlke P., Sieger M., Stromer J., Chekhonin P., Skrotzki W.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, PLD process, RABITS process, substrate Ni-W, IBAD process, stainless steel, buffer layers, microstructure, measurement technique
Hanisch J., Schultz L., Huhne R., Usoskin A., Pahlke P., Sieger M., Stromer J., Chekhonin P., Skrotzki W.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Ni-W, IBAD process, RABITS process, comparison, PLD process, microstructure, local distribution, texture
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.